（自动测试向量生成）
TetraMAXTMATPG自动生成高质量的生产测试向量，业界领先的性能，支持大容量的设计且易于使用。TetraMAX为DFT(Design for Test)工程师提供了一系列强大的功能，包括完全的芯片测试规则检查，测试向量生成，分析，故障纺真，失效诊断。这些功能都被整合到一个强大的图形用户界面中，当然也提供命令行方式，同时还有完善的在线帮助。TetraMAX可支持多种设计风格和测试方法，包括多时钟电路，门控时钟电路，内部三态总线，内嵌存储器，无扫描逻辑和其他复杂的设计风格。TetraMAX结合了高性能和完善的测试能力以及无法比拟的易用性使得DFT工程师在面对那些大型的富有挑战性的设计时也能迅速创建高效紧凑的测试方案。
● 用紧凑的高质量的测试向量来提高产品的质量
● 用先进的测试向量压缩技术来降低你的测试成本
● 与Synopsys DFT Compiler结合提高设计工程师的生产效率
● 支持复杂的数百万门级设计的自动测试
TetraMAX DSM Test（时序相关测试）
目前在设计中将近一半的生产缺陷都是与时序相关的，这些缺陷若不通过专门针对延时缺陷的检测是很难被发现的。TetraMAXTMDelay Test提供了一种专门针对延时测试的基于扫描结构的方法。TetraMAX Delay Test提供可预见的可控制的延时故障覆盖率，并确保和低成本的测试仪兼容。TetraMAX Delay Test让设计师们可以轻松地为大部分常见的时序相关缺陷产生测试向量，包括传输延时模型，路径延时模型。而且TetraMAX Delay Test与Synopsys公司的Prime Time工业界顶尖的静态时序分析工具配合，进一步增强了TetraMAX Delay Test和其他工具的协同工作能力。
● 大大提高测试质量
● 支持结构化的基于扫描的延时测试
● 提供了可预见的可控制的延时故障覆盖率
● 和低成本的测试仪兼容