ESP_CV是全定制电路设计中用于功能验证的解决方案。ESP-CV可对存储器电路和复杂的数据线宏单元进行行为级与晶体管级之间的比较。

主要优点：

• 增强设计可靠性和质量

• 满足功能验证覆盖率要求

• 提高功能验证效率

• 消除对建立可综合的子模块模型的需求

• 不受晶体管级至门级电路抽象要求的限制

• 采用独有技术，为全定制电路的设计验证提供更高的精度

• 考虑时序和信号强度对功能的影响